Yorumlar 0
Paylaş

Patent, Faydalı Model ve Entegre Devre Topoğrafyası

Name: Patent, Faydalı Model ve Entegre Devre Topoğrafyası
Author: Prof. Dr. Habip Asan
ISBN: 9786057422330

Prof. Dr. Habip Asan,

Dr. Ayben Işılay Özdoğan

LYKEION

Sınai Mülkiyet Hakları Uygulamaları Serisinin bu kitabı; ekonomik kalkınmanın en önemli göstergelerinden olan patent, faydalı model ve entegre devre topoğrafyası ile ilgilidir. Bu alanlarda yapılacak başvurularda, güçlü bir koruma elde edilebilmesi için iyi bir strateji oluşturulmalı ve başvuru öncesinde detaylı çalışmalar yapılmalıdır.

Kitapta, başvurular için gerekli ön bilgilerden ve başvuru süreçlerinden bahsedilmiştir. Aynı zamanda, salt patent hukukunu içeren kitaplardan farklı olarak pratikte yararlanılabilecek bilgiler de verilmiş ve hâlihazırda var olan başvurulardan örnekler sunulmuştur. Ayrıca kitapta, uluslararası ofis uygulamaları ve mahkeme kararlarını içeren bilimsel örneklere de yer verilmiştir. Bu alanda çalışan, kariyer hedefleyen veya konuya ilgi duyan herkesin yararlanabileceği bir kaynak oluşturulmuştur.

Liste Fiyatı:	534,00
Yayın Tarihi:	25.09.2021
ISBN:	9786057422330
Dil:	TÜRKÇE
Sayfa Sayısı:	209
Cilt Tipi:	Karton Kapak
Kağıt Cinsi:	Kitap Kağıdı
Boyut:	16 x 24 cm